同一门户对接干涉/形貌、洁净与粒径、电化学三条技术栈;我们用应用语言帮您压缩从规格书到验收报告的时间。
ZYGO Corporation 成立于1970年,总部位于美国康涅狄格州,是全球精密光学计量系统与超精密光学元件的领导者。五十余年来,ZYGO 持续引领光学计量技术的革新,为半导体、航空航天、国防、科研及精密制造领域提供无与伦比的测量精度与可靠性。
意曦科技作为 ZYGO 中国市场推广合作方,为中国客户提供全线精密光学计量产品的选型论证、交付导入与持续技术保障;并可在同一项目内协同 TSI、AMETEK 等方案,减少多头供应商带来的集成与接口成本。
ZYGO 最新一代激光干涉仪,采用先进相位测量技术,以亚纳米精度对光学面形进行测量,广泛应用于半导体、航空航天和超精密光学加工领域。
行业公认的三维表面形貌测量标杆,以非接触方式提供高精度三维表面数据,适用于粗糙度、台阶高度及微结构表征。
业界领先的精密光学元件,包括平面光学元件、精密镀膜及非球面/自由曲面光学元件,满足最苛刻的工程应用要求。
为航空航天、半导体、国防及科研应用设计制造复杂光学系统,集成超精密光学元件与先进对准技术,经严格系统级计量验证。
TSI 创立于1961年,总部位于美国明尼苏达州,长期专注于颗粒物、气溶胶、流量与相关环境监测仪器,是洁净室粒子检测领域的权威品牌。其洁净室产品线广泛应用于制药、半导体、电子制造与科研等领域,符合 ISO 洁净室标准与制药合规要求。
意曦科技可协助客户完成 TSI 产品选型咨询与商务对接。详情见 tsi.com。
面向洁净室连续环境监测,支持关键区域在线粒子检测,可与设施监测架构配合,满足制药、电子级洁净厂房对数据可靠性与合规文档的要求。参阅 TSI AeroTrak™+ 专题页。
TSI Scanning Mobility Particle Sizer(SMPS)通过电迁移分级与粒子计数,在宽动态范围内实现纳米至亚微米气溶胶粒径分布的高分辨测量,适用于大气与气溶胶科研、发动机排放、过滤器效率评价等。参阅 TSI 粒径谱仪产品系列。
AMETEK Scientific Instruments 将 Princeton Applied Research(普林斯顿应用研究) 与 Solartron Analytical(输力强) 的电化学与阻抗技术整合在同一产品体系下,提供从基础电化学到电池研发、腐蚀与材料表征的综合测试方案。
典型应用涵盖锂电与储能、氢能、电催化、涂层腐蚀与物理电化学等领域。官方站点:Princeton Applied Research · Solartron Analytical。
研究级恒电位仪/恒电流仪、电化学阻抗(EIS)/频率响应分析、多通道能源测试平台及电池循环测试等完整解决方案。